迄今为止的物质结构探测技术一般都是以晶体—长程有序结构的衍射现象为基础,但XAFS(X-Ray AbsorptionFine Structure,X射线吸收精细结构谱)是例外。

EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure)简介

迄今为止的物质结构探测技术一般都是以晶体—长程有序结构的衍射现象为基础,XAFS(X-Ray AbsorptionFine Structure,X光吸收精细结构谱)是例外。XAFS之所以能成为研究非晶(包括液体)结构的有力工具,原因在于它是以散射现象———近邻原子对中心吸收原子出射光电子的散射为基础,反映的仅仅是物质内部吸收原子周围短程有序的结构状态。晶体学的理论和结构研究方法不适用于非晶体,而XAFS的理论和方法却能同时适用于晶体和非晶体,其原因即在于此。

EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题。

EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure)

吸收边产生的原因：

当入射X光子的能量等于被照射样品某内层电子的电离能时，会被大量吸收

XAFS包括EXAFS和XANES两种技术 EXAFS 是元素的X射线吸收系数在吸收边高能侧 30-1000 eV 范围出现的振荡。

XANES (X-ray absorption near edge structure)

是元素吸收边位置50 eV范围内的精细结构。

(精细结构：吸收边附近及其广延段存在一些分立的峰或波状起伏，称精细结构)

1.不依赖晶体结构，因此可用于大量的非晶态材料的研究

2.不受其他元素的干扰，对不同的元素的原子，可由吸收边位置不同，而得以分别研究

3.可测配位原子的种类、个数、间距等

4.浓度很低的样品，百万分之几的元素也能分析

5.样品制备比较简单，数据收集时间短