X光散射技术
常用的非破坏性分析技术
X光散射技术或X射线衍射技术(英语:X-ray scattering techniques)是一系列常用的非破坏性分析技术,可用于揭示物质的晶体结构、化学组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础,并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析,例如不同的温度或压力。
X光衍射技术
X光衍射(X-ray diffraction)技术可以用于研究分子的构象或形态。X光衍射技术是基于X光在穿过长程有序物质所发生的弹性散射。“衍射动力学理论”对晶体的散射现象给出了更为复杂的描述。以下列出的是X光衍射的相关技术:
散射技术
弹性散射
即使是非晶态物质(非长程有序),也可能可以用依赖于单色性X光的弹性散射的方法来研究:
非弹性散射
非弹性散射的X射线的能量和角度被监测时,相关的散射技术就可以用于探测物质的能带结构:
参考资料
最新修订时间:2022-08-25 16:42
目录
概述
X光衍射技术
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