X射线荧光法_测量方法 - 线报百科mbji.cn

X射线荧光法

测量方法

X射线荧光法是用，照射待测样品，使受激元素产生二次特征X射线（即荧光），使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率，从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。

词目：X射线荧光法

释文：方法的特点是操作简单，速度快，可以进行原位测量，在现场获得目标元素的含量；划分矿与非矿的界限，代替或部分代替刻槽取样。放射性同位素X射线荧光测井和海底X射线荧光测量，也得到了很大的发展。

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最新修订时间：2024-05-21 13:09

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