加校正因子的主成分自身对照法 精密称取杂质
对照品和待测成分对照品各适量，配制测定杂质校正因子的溶液，进样，记录
色谱图，按公式
校正因子（f）=As×Cr/Ar×Cs(As为杂质对照品的
峰面积或峰高，Cr为待测成分对照品的浓度，Ar为待测成分对照品的峰面积或峰高，Cs为杂质对照品待测成分的浓度)计算杂质的校正因子。此校正因子可直接载入各品种正文中，用于校正杂质的实测峰面积。
测定杂质含量时，按个品种项下规定的杂质限度，将
供试品溶液稀释成和规定中限度相当的溶液作为
对照溶液，进样，调节
仪器灵敏度，使对照溶液的
主成分峰高达满量程的10%~25%。然后取供试品溶液和对照溶液适量，分别进样，供试品溶液的记录时间除另外规定外，应为主成分
色谱峰保留时间的2倍，测量供试品溶液色谱图上各杂质的峰面积，分别乘以相应的校正因子后与对照溶液主成分的峰面积比较，依法计算各杂质含量。
不加校正因子的主成分自身对照法 当没有杂质对照品时，也可以采用不加校正因子的主成分自身对照法。同上述配制对照溶液并调节仪器灵敏度后，取供试品溶液和对照溶液适量，分别进样，前者的记录时间
除另有规定外，应为主成分色谱峰保留时间的2倍，测量供试品溶液色谱图上各杂质的峰面积，并与对照溶液主成分的峰面积比较，计算杂质含量。