光片
一面被磨平并抛光过的矿石小标本
是一面被磨平并抛光过的矿石小标本。磨光面要求平滑如镜,硬矿物和软矿物的相对突起不过于明显,不应有小坑、细裂缝或擦痕存在。碎屑矿物用各种胶结物(如电木粉)胶结后也可磨成光片。光片的质量好坏直接影响鉴定工作。
简介
偏光显微镜及反光显微镜下研究工艺岩石(炉渣等)、工艺矿石(烧结矿、球团矿)以及天然岩石的矿物组成、晶体大小、含量及其结构、构造特征时,必须将上述样品磨制成高质量的光片、光薄片及薄片等矿片。矿片的磨制质量对鉴定矿物和观察结构特征影响极大,如果磨制的矿片质量不好,常常会影响鉴定工作的准确性。因此,必须学会磨制高质量的光片、薄片。
光片的磨制
工艺矿石(人造富矿)或天然矿石的不透明矿物或半透明矿物,如磁铁矿、赤铁矿及褐铁矿等金属矿物,应磨制成一个大约为2CM×1.5CM×1CM的长方形光片。矿石光片的磨制过程如下。
(1)样品准备选择有代表性的铁矿石或人造富矿等样品。十分致密而坚固的样品可直接磨制;疏松散粒的样品,可先用树胶胶结加固后,再进行磨制。磨制光片所用矿石块,可先用切片机,将矿块切成略天于2CM×1.5CM×1CM(或2.5CM×1.5CM×1CM)长方形矿石块,然后进行磨制。
(2)粗磨将切下的矿石块放在磨片机上进行精磨,选用120号~150号金刚砂把矿石磨成2CM×1.5CM×1CM至2.5CM×1.5CM×1CM的长方形矿石光片,然后再用清水洗净。
(3)细磨为了防止光片在细磨时有疏松碎屑掉下,在细磨前要用树胶胶结,再用400号~500号金刚砂在细而平的铁盘上进行细磨,直到把粗磨痕迹磨去为止,而后用清水洗净,洗净后换用800号~1000号的金刚砂进行研磨,直到把400号~500号金刚砂细磨留下的痕迹磨去为止,用清水洗净。最后用氧化铝泥浆在玻璃板上精磨,磨到削除所有擦痕,使光片表面光滑有发光感觉时,再用清水洗净。
(4)抛光将磨好的光片在抛光机上抛光。抛光时可根据矿物软硬程度不同,选择不同的磨料和抛光布。一般陆地工人矿石,如铁矿石、烧结矿和球团矿等用氧化铬粉在丝绒上进行抛光,效果很好。光片抛光后在清水中漂洗,再用干丝绒和鹿皮把光面轻轻擦干,切忌用手摸。
(5)编号光片磨成之后,必须随即编号,以免混淆。编号时,可先在光片的侧面或底面涂上白漆,然后以绘图墨水或黑、红油漆写上编号。这些工作做完后,即可供矿相显微镜观察、鉴定和研究。人造富矿光片用完后,最好放在干燥保存,以免光片粉化。
光薄片的磨制
准确地鉴定天然矿石、人造富矿中的透明矿物和半透明矿物(如橄榄石、硅灰石及铁酸钙等)的组成和它们与不透明矿物之间的关系,需要制成样品厚度为0.03MM的透明光薄片。制作方法是把矿石切成略大于2.5CM×1.5CM×1CM的长方形或其他形状的矿块,先将其一面粗磨;细磨直到玻璃板上细磨后,在清水中清洗。用固体光学树胶,把细抛光面粘在玻璃片上,再反过来经粗磨到细磨一直磨到厚度为0.03MM,然后在抛光机上抛光,制成既当薄片用(用以在偏光显微镜下鉴定透明矿物或半透明矿物),同时又能当光片用(用以在矿相显微镜下鉴定不透明矿物)的光薄片。这种光薄片可以在同一片子上研究不透明矿物和透明矿物或半透明矿物的相互关系。对研究人造富矿来说,制成薄片易于保丰,放在干燥器中长久保存不致粉碎。
薄片的磨制
薄片是用以在偏光显微镜下研究天然岩石、矿石及工艺岩石、矿石中的透明矿物的片子。样品准备和磨制过程基本上与光薄片同。只是样品磨到厚度为0.03MM后,不必抛光,但是要用液体光学树胶把盖玻片粘在矿片的表面上。薄片是由很薄的矿片、载玻片及盖玻片所组成。疏松样品在磨制薄片前,须浸在树胶中煮胶,然后再制成薄片。
在磨制自熔性或高碱度烧结矿以及某些工艺岩石的薄片时,由于其中有些矿物易被水浸蚀,可考虑用煤油或无水乙醇等作为细磨时的研磨剂。
区别
光片和薄片的区别
1、切片方式不同
薄片要把岩石切至0.03mm以下,用树胶贴在载玻片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。光片不需要载玻片或是盖玻片,只需要把岩石表面抛光。
2、实验仪器不同
薄片:主要用透射光显微镜 光片:用反射光显微镜。不过现在高级的显微镜同时配备有透射和反射光路。
3、磨片目的不同
薄片:主要是对岩石中的透明矿物进行观察,适用于一般岩石。但是若岩石中含有金属矿物,等无法判别。
光片:适用于矿石中矿石矿物(方铅矿、黄铜矿等)的判别。
样品及采集
岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集
1.样品规格:
陈列标本的大小不应小于3×6×225px;供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则,规格不限。
2.采样要求
①沉积岩 对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样,同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品;有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段,应视研究的需要而加密采样点。
②岩浆岩 在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品,在各相带间的过度地段应加密采样点;对岩体的下列地段及地质体均应采集样品:析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等;对各种类型的火山岩,按其层序及岩性,沿走向和倾向系统采样。
③变质岩 根据岩石变质程度按剖面系统采样,并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物;对不同夹层、残留体(由边缘至中心)、各种混合岩应系统地分别采样。
④矿石
应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石,以及根据矿石中各有用矿物的相互关系,有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。对于矿石类型复杂,矿物组合变化大的矿体,还应选择有代表性的剖面系统采样,以便研究矿石的变化规律。在对矿石采集光片鉴定样品的同时,为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系,应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。
当对各类岩石和矿石采集化学全分析样品,同位素地质年龄测定样品时,应同时采集岩矿鉴定样品。应注意采集反映构造特征的标本,若小型标本不足以反映岩石、矿石的特殊构造时,可根据需要采集大型标本;若采集定向标本,则应注明产状方位;采集极疏松和多孔样品时,可先用丙酮胶(废胶卷溶于丙酮制成)浸透岩石、矿石,待胶结干涸后再采集样品。无特殊情况(如研究风化岩石、矿石),一般应采集新鲜样品。对于岩石标本,有时可适当保留部分风化面,以便更好地再现它的野外直观特征。
3.样品的编录
样品采集后,应在采样现场按采样目的,将欲切制成光片、薄片等部位,用醒目的色笔圈出。在一般情况下,应使切片平面垂直于层理、矿脉等延向。然后编号、登记、填写标签(同时注明切片种类、数量)等,尤其须在记录本上注明采样位置、编号、采样目的等。
参考资料
最新修订时间:2024-06-15 15:50
目录
概述
简介
光片的磨制
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