半导体测试设备
电子测量仪器
半导体测试设备是一种用于电子与通信技术领域的电子测量仪器，于2011年6月1日启用。
技术指标
100数字通路，测试向量深度64Mbit。
主要功能
芯片性能测试。
参考资料
半导体测试设备.国家科技基础条件平台中心.
最新修订时间：2021-09-01 17:06
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技术指标
主要功能
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