反走样,计算机图形学术语。
定义
我们在光栅图形显示器上绘制非水平、非垂直的直线或多边形边界时,会呈现锯齿状外观。这是因为直线和多边形的边界是连续的,而光栅则是由离散的点组成。在光栅显示设备上表现直线、多边形等,必须在离散位置采样。由于采样不充分重建后造成的信息失真,就叫走样;用于减少或消除这种效果的技术,就称为反走样。
应用
基本上反走样方法可分为两类。第一类是提高分辨率 即增加采样点(提高采样频率)。然而,CRT光栅扫描设备显示非常精细光栅的能力是有限的,因此人们通常是在较高分辨率上对光栅进行计算,然后采用某种平均算法(滤除高频分量)得到较低分辨率的象素的属性,并显示在分辨率较低的显示器上 。这种方法称为超采样或后置滤波。另一类反走样是把像素作为一个有限区域,对区域采样来调整像素的亮度,以光顺边界来减小锯齿现象。这种方法等价于图像的前置滤波。