平板平面度误差是指平板加工后的实际表面和理论上的理想平面之间的差值。平板平面度误差的
检定,是通过被测实际表面与理想
表面相比较来进行的。而理想平面相对于实际表面的
位置,将影响平板平面度误差的检定结果。为此规定在评定平面度误差时,理想平面的位置按最小条件来
确定。
最小条件是指:在确定理想平面
位置时,应使该理想平面与实际
表面相接触,并使两者之间的最大距离为最小。对于被测实际表面
平面度的评定,可做很多个理想平面。
按最小条件评定,排除了评定基准带来的误差,更如实地反映了被测平板的平面度误差,所评定的误差值为最小,有利于最大限度地保证平板
平面度的合格性。评定结果的唯一性,避免了发生争执,所以说最小条件是评定平板平面度误差的基本原则。
平面度误差是指被测实际表面相对其理想表面的变动量,理想平面的位置应符合最小条件,平面度误差属于
形位误差中的形状误差。
1、
平晶干涉法:用光学平晶的工作面体现理想平面,直接以
干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面,如
量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。
2、打表测量法:打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量 法按评定基准面分为三点法和对角线法:三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面,实测时先将被测实际表面上相距最远的三点 调整到与标准平板等高;对角线法实测时先将实际表面上的四个
角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量,测微计在整个实际表面上测得的最大变动量 即为该实际表面的平面度误差。
3、液平面法:液平面法是用液平面作为
测量基准面,液平面由 “连通罐”内的液面构成,然后用传感器进行测量。此法主要用于测量大平面的平面度误差。