集总参数电路(模型)由
电路元件连接而成,电路中各支路电流受到
基尔霍夫电流定律(KCL)约束,各支路电压受到
基尔霍夫电压定律(KVL)约束,这两种约束只与电路元件的连接方式有关,与元件特性无关,称为拓扑约束。
同时,
集总参数电路(模型)的电压和电流还要受到元件特性(例如欧姆定律u=Ri)的约束,这类约束只与元件的VCR有关,与元件连接方式无关,称为元件约束。
任何集总参数电路的电压和电流都必须同时满足这两类约束关系(拓扑约束、元件约束)。因此电路分析的基本方法是:根据电路的结构和参数,列出反映这两类约束关系的KCL、KVL 和VCR方程(称为电路方程),然后求解电路方程就能得到各电压和电流的解答。
拓扑约束用来约束零部件的结构,几何约束用来约束各几何元素的固定联系,尺寸约束用来约束各几何元素的大小尺寸,基约束为描述一个实体相对于其他实体的位置。在国内很多文章将这些约束统称为几何约束,分类为尺寸约束和拓扑约束,拓扑约束包含了本文中的(几何约束和拓扑约束)将基约束、尺寸约束、几何约束和拓扑约束作为构成几何或拓扑结构的几何要素和表面轮廓要素,可以导出各形状结构的位置和形状参数,从而形成参数化的产品几何模型。