晶粒边界是指晶体粒子的边界。

矿物晶体内部各粒子都是由各种离子键、原子键、分子键等相连结。

由于矿物晶粒表面电价不平衡而使矿物表面具有一定的结合力，但这种结合力一般比起矿物内部的键连结力要小，因此晶粒边界就相对软弱。

ZnO压敏电阻的晶粒涂料边界从结晶的Bi-O变化到无定形相，最终变化为ZnO-ZnO晶粒没有任何第二相。这种变化看来决定于晶粒边界的总厚度。

结晶相和无定形相存在于Bi-O相宽度15~50nm处的点所以，采用高分辨率的HREM沿ZnO晶粒边界从三角结点到无第二相的点处追踪观测了Bi—相的形态。Bi偏析区范围还采用具有能量弥散X衍射光谱的场致发射型TEM进行了精确分析。

无定形晶粒边界详解

沿ZnO晶粒边界的Bi连续性也利用EDS绘图技术证实试样为商用ZnO压敏电阻，含0.5%Bi2O3和少量其他过渡金属氧化物添加物，按传统的ZnO压敏陶瓷工艺混合制备，在1150℃下烧结5h，按—75℃/h速度冷却，在550℃下热处理，将烧结的试样中心切割，经离子减薄用于TEM分析采用两种透射电子显微镜，用于观测晶粒边界附近的微观结构，以及FE—TEM-2010F。

乳胶漆为了达到分析目的，前者可以分辨空间为0.17nm，后者可分辨空间为0.19nm，后者还具有EDS点分析的功能及空间分辨小于1nm绘图分析功能。结晶相仅存在无定形相的一侧，该相的另一侧直接与ZnO晶粒接触。这些结果证明，在宽度小于4nm的晶粒边界，Bi-O结晶相是不存在的。

在该观察到ZnO晶粒间无第二相，既不结晶的，也无定形的在晶界边界宽度小于4nm的所有晶粒边界观察到的均是无定形的。表明：1.晶粒相是无定形的。

Bi偏析于晶粒边界内而在离ZnO晶粒表面0.5~1.0nm一侧是不存在的；3. Zn存在于晶界无定型层中。X光谱探测出Bi、O和Zn的特征线谱，Zn的特征X光被Bi的特征X光荧光激发是肯定的两个ZnO晶粒彼此直接接触的结晶面，这表明在晶粒边界不存在晶界相，用EDS分析了化学成分，这三个点位于与ZnO晶粒边界的垂直的间距离1mm处。过氯乙烯漆在ZnO-ZnO晶粒边界的第二点在直径1mm的区域内测得Bi占9%，剩余的是Zn。