磁力显微镜（Magnetic force microscope.MFM）是一种原子力显微镜，通过磁性探针扫描磁性样品，检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的磁性结构。很多种类的磁性相互作用可以通过磁力显微镜测量，包括磁偶相互作用。磁力显微镜扫描经常使用非接触式的模式。

在磁力显微镜的测量中，样品和探针之间的磁力可表述为

其中是探针的磁矩，是样品表面杂散磁场的磁，µ0是自由空间的磁导率。

由于样本的杂散磁场可以影响探针的磁性状态，而探针的磁场也影响样本，磁力显微镜测量的解释并不是简单。例如，磁化探针的几何形状必须确定以便做定量分析。

典型的分辨率可以达到30nm ,尽管10到20nm 也可以实现。

磁力显微镜的发展基于以下发明的推动:

1982 -扫描隧道显微镜(STM)

1986 -原子力显微镜(AFM)

1987 - 磁力显微镜 (MFM)

磁力显微镜的主要结构:压电扫描仪

磁性探针在灵敏的杠杆（悬臂）的一端，通常是涂油磁性材料的AFM探针。

磁力显微镜的扫描方法被称为“提升高度”法。当探针以小距离（< 10nm）扫描样品表面时, 检查到的不仅有磁力，还有原子力和静电力。 提升高度法通过如下手段提高磁力的精确度:

扫描探针显微镜(SPM)不仅可以获得样品的表面形貌，借助特殊的探针和检测技术，还可用以分析与作用力相关的样品表面性质。CSPM5500磁力显微镜(MFM)可以检测样品表面的磁畴分布，用于各种磁性材料的分析和测试；CSPM5500静电力显微镜(EFM)可以检测样品的表面电势、电场分布、薄膜的介电常数和沉积电荷等信息。