耗散型石英晶体微天平
分析仪器
耗散型石英晶体微天平是一种用于工程与技术科学基础学科领域的分析仪器，于2017年1月1日启用。
技术指标
1，离线称重：芯片离线改性的质量可测量 2，质量精度：0.86ng/Hz，0.2ng/cm2 3，耗散精度：0.04X10-6。
主要功能
石英晶体微天平利用了石英晶体的压电效应，将石英晶体电极表面质量变化转化为石英晶体振荡电路输出电信号的频率变化，进而通过计。
参考资料
耗散型石英晶体微天平.国家科技基础条件平台中心.
最新修订时间：2021-01-05 20:05
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技术指标
主要功能
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