郑耀宗,1939年2月9日出生于香港,籍贯广东中山,微电子学专家,
中国科学院院士,
香港城市大学前校长、
香港大学前校长。
郑耀宗发明了掺氯化氢硅氧化技术,解决了当时金属—氧化硅—硅(MOS)器件和集成电路阈值电压漂移、不能稳定工作的难题,使MOS器件和电路的性能、可靠性和成品率提高。在国际上首先提出了MOS反型层载流子表面粗糙度散射理论,在MOS集成电路进入深亚微米阶段后,这一机理已成为决定MOS反型层载流子迁移率的主要因素,这是对MOS器件物理的一大发展。他是较早开展氮化硅技术的研究者之一。在深亚微米器件模型研究工作中取得重要成果。
2007年1月9日,郑耀宗来到广东实验中学,旁听了一节高一物理课,和学生们进行了面对面的交流对话。他说“我只想把我的人生经验告诉你们,不要太短视,不要急于求成,一定要把兴趣放在有用的学科上。”
郑耀宗是微电子领域的著名专家,又曾长期担任世界著名高校校长,在治学和治校方面都取得一流成就。(电子科技大学校党委副书记
王亚非评)