《纳米材料分析》是2003年化学工业出版社出版的图书，作者是黄惠忠。

“纳米科技”是指在纳米尺度（0.1-100nm）上研究物质的特性和相互作用以及利用这些特性开发新产品的科学与技术。《纳米材料分析》内容是纳米科技的重要方面之——一纳米检测与表征的方法与技术。书中介绍了在纳米尺度上原位研究各种纳米结构的电、磁、光、热、力学等特性；纳米空间的化学过程、物理运输过程；以及纳米空间的原子、分子的排列、组装与其奇异的物性的关系的研究方法。包括了全部的纳米材料现代检测技术，详述了方法原理与检测技术，并有具体实例。

第一章绪论1

尺寸效应2

量子尺寸效应2

表界面效应3

纳米结构功能材料与器件的分子工程研究4

纳米结构分析器件5

金属纳米簇的锚定与DNA检测生物芯片5

纳米结构化学传感器7

参考文献7

第二章扫描隧道显微术9

STM基础知识9

1隧道效应9

STM工作原理12

……

烷基胺和烷基硫醇对小Pt纳米原子团簇的表面修饰：

XPS研究有机配体对小Pt纳米原子团簇结合能的影响117

用XPS峰形分析测定表面纳米结构119

XPS和近边X射线吸收精细结构对Au和Ag上含硫芳香族

自组装单层结构的分析123

X射线光电子衍射（X?ray Photoelectron Diffraction,XPD）对SiC和AlN外延膜多种类型和极化性的研究128

参考文献131

第六章紫外光电子能谱在纳米材料分析中的应用133

第一排过渡金属和C3原子团簇的振动分辨光电子

能谱：MC-3（M=Sc,V,Cr,Mn,Fe,Co和Ni）133

UPS等对自组装有机/无机半导体界面上酞菁铅

电子结构的分析138

光电发射谱对单壁碳纳米管束的分析143

角分解光电子发射分析准一维导体Nb3Te4147

角分解光电子能谱（ARPES）和STM等分析半导体

表面上自组织的量子线151

参考文献153

第七章飞行时间二次离子质谱术、电子能量损失谱和表面扩展X射线

吸收精细结构等在纳米材料分析中的应用155

飞行时间二次离子质谱术对自组装单层的分析155

自组装膜155

自组装单层（SAMs）156

自组装单层对高聚物和蛋白质的阳离子化效应159

电子能量损失谱在纳米材料分析中的应用161

单根纳米管的电子能量损失谱161

线扫描模式的TEM（Transmission Electron Microscope,透射电镜）?EELS研究纳米尺度多层164

EELS对激光烧蚀合成Y?Ba?Cu?O纳米杆的分析167

EELS分析共轴纳米电缆：用氮化硼和碳包复氧化硅和

碳化硅169

EELS等技术对纳米粒子和具明确分层BN和

C纳米管合成的分析172

模板合成BN：C纳米盒的分析176

表面扩展X射线吸收精细结构谱等对Cu(100)上自组装纳米

尺度Fe岛结构和磁性的分析179

近边X射线吸收精细结构谱（NEXAFS）等对氧化硅纳米

原子团的形态、光致发光和电子结构的分析183

XPS等对Si纳米线中表面结构、光致发光和激发的比较

研究186

参考文献189

第八章俄歇电子能谱在纳米材料分析中的应用190

引言190

俄歇电子能谱原理191

俄歇电子产生过程191

俄歇跃迁过程定义及标记192

俄歇电子动能192

俄歇电子强度193

电离截面193

俄歇跃迁几率与X射线荧光几率194

平均自由程与平均逃逸深度195

俄歇电子能谱仪的结构196

AES谱仪的基本结构196

电子束源196

俄歇电子能谱的实验技术196

样品制备技术196

含有挥发性物质和表面污染的样品197

带有微弱磁性的样品197

离子束溅射技术197

样品荷电问题198

俄歇电子能谱采样深度198

俄歇电子能谱图的分析技术199

俄歇电子能谱的定性分析199

表面元素的半定量分析201

表面元素的化学价态分析202

元素深度分布分析202

微区分析204

选点分析204

线扫描分析206

元素面分布分析207

俄歇电子能谱在纳米材料研究上的应用208

纳米薄膜表面清洁程度的测定209

表面吸附和化学反应的研究209

纳米薄膜厚度测定211

纳米薄膜的界面扩散反应研究211

固体表面离子注入分布及化学状态的研究214

纳米薄膜制备的研究217

纳米薄膜化学反应研究219

纳米薄膜表面扩散研究222

薄膜催化剂的研究222

10MoO3的表面单层扩散研究225

1金属负载纳米薄膜光催化剂的研究226

12纳米尺度多层膜的俄歇电子能谱分析230

纳米尺度的多层膜分析230

元素的俄歇电子像和二次电子像234

参考文献234

第九章X射线结构分析技术236

X射线衍射分析基础236

X衍射分析历史236

射线的产生236

射线谱237

X射线衍射的基本理论237

衍射的概念237

X射线衍射方向238

X射线的衍射强度239

X射线衍射装置和实验239

X射线衍射的方法239

样品制备240

X射线衍射分析240

XRD物相定性分析241

物相定量分析241

晶粒大小的测定原理243

小角X射线衍射245

应力的测定246

薄膜厚度和界面结构测定247

物质状态的鉴别248

纳米材料研究中的XRD分析248

纳米材料合成中的物相结构分析248

纳米材料晶粒度的分析253

纳米介孔结构的测定254

纳米薄膜分析257

1TiO2薄膜的晶相结构和薄膜结构257

煅烧过程对TiO2薄膜光催化剂晶型结构的影响259

纳米催化剂中毒研究260

XRD物相定量分析研究纳米催化剂的单层分散261

参考文献262

第十章纳米材料的颗粒度分析263

基础知识263

粒度分析方法263

电镜观察法264

激光粒度分析法264

激光粒度分析原理264

激光粒度分析仪装置265

沉降法粒度分析266

电超声粒度分析法267

粒度分析的样品制备268

粒度分析在纳米材料中的应用269

电镜观察法研究高分子纳米球269

TiO2纳米光催化剂颗粒分布研究269

石墨颗粒的粒度分析272

炭黑粒度分析272

多酸淀粉复合物的纳米颗粒274

光子相关光谱技术分析纳米颗粒274

参考文献276

第十一章电子显微分析技术277

透射电镜（TEM）基础知识278

透射电镜构造278

电子光学部分278

真空部分280

电子学部分和其他280

样品台280

透射电镜的合轴调整280

透射电镜成像原理281

电子衍射282

衍射衬度像284

高分辨电子显微术（HREM）285

会聚束衍射(CBED)287

微衍射(NED)287

X射线能谱仪（EDS）288

能谱仪原理289

EDS性能289

射线谱仪的分析方法290

电子能量损失谱(EELS)292

透射电镜样品制备292

扫描电镜（SEM）基础知识295

扫描电镜的基本结构295

扫描电镜像形成衬度原理295

二次电子像形成衬度原理296

背散射电子像形成衬度原理297

扫描电镜性能特点及其分

世界上最小的纳米天平310

碳纳米管电导的测量311

碳纳米管的场发射和逸出功的测量312

纳孔结构分析313

参考文献316

第十二章振动光谱技术318

振动光谱的基本原理318

分子的振动光谱318

红外光谱319

拉曼光谱322

红外光谱与拉曼光谱比较324

纳米材料的红外吸收和拉曼散射行为327

纳米材料的特性327

纳米材料的红外吸收328

纳米材料的拉曼散射331

几种典型的振动光谱实验技术336

反射吸收红外光谱技术336

掠角反射吸收红外光谱技术337

衰减全反射红外光谱技术344

表面增强红外光谱技术345

表面增强拉曼光谱技术349