热释发光，发光体中以某种方式被激发后，贮存了能量，然后加热发光体，使它以光的形式把能量再释放出来的发光现象。

热释发光材料中含有一定浓度的发光中心和陷阱，在光或射线粒子激发下,晶体内产生自由电子或空穴,其中一部分被陷阱俘获。晶体受热升温时，被俘的电子热激发成为自由载流子，当与电离的发光中心复合时就发出光来。发光强度近似正比于陷阱释空率（单位时间、单位体积晶体内从陷阱释放出的载流子数）和复合发光的效率。热释发光的强度随发光体的温度的变化曲线叫热释光曲线。测量时先在低温（如液He或液N 温度）下激发发光体。选择加热方式，可按分析数据的需要采取各种时间函数的变化，常用的是线性加热。当发光体从低温开始受热升温时，浅陷阱中的电子先受热激发到导带，热释光曲线上升，温度上升到T时，曲线出现峰值，陷阱释空时，曲线下降。温度继续上升，在另一温度T时，曲线又出现峰值，对应于另一更深的陷阱。从曲线高峰的数目可推断陷阱大致分为几种深度，从高峰位置对应的温度可估计陷阱深度。 近来由于测试技术的进步，可以测量发光光谱随温度的变化。利用热释光曲线研究陷阱是研究固体的一种简单而重要的方法，此外，还可利用热释发光现象推断一些古物的年代。物体受射线辐照时间越长，陷阱中俘获的电子数越多，热释发光光和（热释发光曲线下面的面积）也越大，因此能反映发光体受辐照的历史。测量样品的热释发光光和并与参照样品作比较，原则上可推断化石等样品的年代。热释发光及光释发光现象作用相同，都是释放陷阱电子，利用热释发光也可制作剂量计。

中国科学院吉林物理所、中国科学技术大学固体发光编写组：《固体发光》，中国科技大学出版，1976。

D.Curie, Luminescence in Crystals, Methuen, London,1963.